FA8失效分析探針臺是專為失效分析實(shí)驗室設(shè)計的一款量測設(shè)備,具光學(xué)特性、激光特性,設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,系統(tǒng)性能優(yōu)異,人體工程學(xué)設(shè)計,操作便捷,支持多功能升級,產(chǎn)品功能豐富齊全
FA8失效分析探針臺
產(chǎn)品概要
FA8失效分析探針臺是專為失效分析實(shí)驗室設(shè)計的一款量測設(shè)備,具光學(xué)特性、激光特性,設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,系統(tǒng)性能優(yōu)異,人體工程學(xué)設(shè)計,操作便捷,支持多功能升級,產(chǎn)品功能豐富齊全。
產(chǎn)品型號 | FA8 | 工作環(huán)境 | 開放式 |
電力需求 | 220VC,50~60Hz | 操控方式 | 手動探針臺 |
產(chǎn)品尺寸 | 960mm長*850mm寬*1500mm高 | 設(shè)備重量 | 約260KG |
常溫和高低溫環(huán)境下的芯片失效分析、射頻特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析、芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測試、IC/面板內(nèi)部線路修改/去層