建議通過改變直流電壓的同時同步測量微小電流來評估 PD 和 APD 的 I-V 特性。

測試對象

光電二極管和雪崩光電二極管的 I-V 特性評估

市場背景

預計無線通訊處理的數據量將會增加，例如下一代通信標準（如 5G）的普及、V2X（Vehicle to Everything）等車對車通訊和遠程醫(yī) 療。在通過電纜傳輸信號時，高速傳輸大量數據過程中可能會出現丟失和延遲時間。 因此，使用PD（光電二極管）和APD（雪崩光電二 極管）等具有光電特性的半導體作為光接收元件的光通訊備受關注。

PD和APD是轉換光能和電能的元件。
該結構類似于pn結二極管，并顯示出如圖所示的電壓-電流特性（I-V特性）。（遮光的較暗狀態(tài)下的特性） 光電二極管受光照時，I-V特 性下降。此時，偏移的電流值稱為光電流。由于光電流隨著光的強度而增加，因此通過檢測光電流，被用作光學傳感器。 由于光電流是從陰極流向陽極的電流，因此通常與施加到光電二極管的反向電壓一起使用。

問題

I-V特性作為PD和APD的主要電氣特性之一，一般采用直流電壓源和微安表測量。但是，由于要根據直流電壓值來評價電流值，因此需要 測量儀器之間的同步，從而存在控制和系統(tǒng)配置變得復雜的問題。

解決方案

超絕緣表SM7110是一款配備直流電源和微小電流表的測量儀器，可控制0.1V至1000V的寬范圍直流電壓和最小量程為20pA（分辨率 0.1fA）的微小電流?？梢栽诟淖冎绷麟妷旱耐瑫r同步測量微小電流。如果使用HIOKI日置網站上發(fā)布的免費軟件“SM7000 系列采樣應 用軟件（SM7110、SM7120、SM7420）”，即可以輕松地獲得測量結果的圖表。

使用儀器

實測數據