霍爾效應測試系統(tǒng)是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低溫平臺,采用范德堡爾法則設計,應用于高精度的測量半導體材料的載流子類型(P型/N型)、載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等參數(shù),能夠適用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半導體材料。
霍爾效應測試系統(tǒng)
霍爾效應測試系統(tǒng)是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低溫平臺,采用范德堡爾法則設計,應用于高精度的測量半導體材料的載流子類型(P型/N型)、載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等參數(shù),能夠適用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半導體材料。
產(chǎn)品型號 | HALL | 工作環(huán)境 | Windows98/ME/2000/NT/XP環(huán)境下 |
電力需求 | / | 操控方式 | / |
產(chǎn)品尺寸 | / | 設備重量 | / |
霍爾效應測試系統(tǒng)是一款應用于各種半導體材料高精度測量的軟件集成系統(tǒng)。