加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規(guī)范要求，3種控制模式包含：不飽和控制(乾濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等...，完善的保護裝置，保障實驗室與操作人員安全。
全方位安全保護系統(tǒng)：
保護待測品的時序裝置&BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實驗規(guī)范要求，模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下，加載最大工作電壓，檢測內部封裝模組材料接合與保護層的滲透，并且觀察是否造成遷移。
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